固态硬盘RDT老化测试柜

固态硬盘RDT老化测试柜是一种提供高温环境的烘干设备。箱内空气封闭自循环。老化柜内风道为不锈钢结构。工作室内温度由温控仪自动控制，并有自动恒温及时间控制装置，并附设有超温自动停电及报警电路，控制可靠，使用安全。固态硬盘RDT老化测试柜可满足原生NVMe协议支持，兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

*产品技术参数

1.1温度范围：R.T+10 ~ +70℃；

1.2波 动 度：±1.0℃；

1.3温度偏差：≤±3.0℃；(空载条件下)

1.4老化柜内尺寸：D660×W1930×H1450 ，深×宽×高mm；

1.5老化柜外尺寸：D1000×W2490×H2160，深×宽×高mm；

1.6升温速度：≥2℃/min；（全程平均）

1.7老化产品：原生NVMe协议支持，兼容U.2、M.2、SATA全部接口，单盘电流3.5A以上，一次性可老化960PCS产品。

1.8整机功率：约27.00KW；

1.9电 源：AC380V, 50Hz。